陜西開(kāi)爾文測(cè)控技術(shù)有限公司
認(rèn)證資料 Certification Data
陜西開(kāi)爾文測(cè)控技術(shù)有限公司
- 聯(lián)系人：杜浩晨
- 官網(wǎng)地址：www.kewtest.cn
- 經(jīng)營(yíng)模式：制造商
- 主營(yíng)產(chǎn)品：IGBT測(cè)試儀,IGBT測(cè)試系統(tǒng),半導(dǎo)體器件測(cè)試儀,軌道交通IGBT測(cè)試儀
- 所在地：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號(hào)
- 供應(yīng)產(chǎn)品：55
產(chǎn)品詳情
Product details碳化硅器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試臺(tái)<p> 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\MOS管等器件的時(shí)間參數(shù)測(cè)試。<br/>主要技術(shù)參數(shù)：IGBT開(kāi)關(guān)特性測(cè)試 <br/>開(kāi)關(guān)時(shí)間測(cè)試條件<br/>Ic：50A～1000A Vce：200V～2000V<br/>Vgs：-10V～＋20V Rg：1R～100R可調(diào)(可選擇4檔及外接)<br/>負(fù)載：感性負(fù)載阻性負(fù)載可切換<br/>電感范圍：100uH，200uH，500uH，1000uH<br/>電阻范圍：0.5R、1R、2R、4R<br/>IGBT開(kāi)關(guān)特性測(cè)試參數(shù)<br/>開(kāi)通延遲td(on): 20nS -10uS <br/>上升時(shí)間tr: 20nS -10uS<br/>開(kāi)通能量Eon： 0.1-1000mJ <br/>關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)：20 nS -10uS <br/>下降時(shí)間 tf： 20nS -10uS <b
聯(lián)系方式
Contact Us- 聯(lián)系人姓名：杜浩晨
- 聯(lián)系人職位：經(jīng)理
- 聯(lián)系人手機(jī)：13572125545
- 企業(yè)電話(huà)：86-029-89188495
- 詳細(xì)地址：陜西省#陜西省陜西省西安市高新區(qū)工業(yè)園發(fā)展大道26號(hào)